Application of Ring Compression Test for Thin Sheet Metals
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
Thin Film Bulge Test of Nanocrystalline Metals
Free-standing nanocrystalline copper (Cu) films with grain size around 39 nm are fabricated by thermal evaporation and characterized by the plane-strain bulge test. Young’s modulus and yield stress at a 0.2% offset are about 110 ~ 130 GPa and 400 MPa, respectively. Results show that no grain growth is observed and the predominant plastic deformation mechanism is grain boundary sliding accompani...
متن کاملapplication of upfc based on svpwm for power quality improvement
در سالهای اخیر،اختلالات کیفیت توان مهمترین موضوع می باشد که محققان زیادی را برای پیدا کردن راه حلی برای حل آن علاقه مند ساخته است.امروزه کیفیت توان در سیستم قدرت برای مراکز صنعتی،تجاری وکاربردهای بیمارستانی مسئله مهمی می باشد.مشکل ولتاژمثل شرایط افت ولتاژواضافه جریان ناشی از اتصال کوتاه مدار یا وقوع خطا در سیستم بیشتر مورد توجه می باشد. برای مطالعه افت ولتاژ واضافه جریان،محققان زیادی کار کرده ...
15 صفحه اولan application of fuzzy logic for car insurance underwriting
در ایران بیمه خودرو سهم بزرگی در صنعت بیمه دارد. تعیین حق بیمه مناسب و عادلانه نیازمند طبقه بندی خریداران بیمه نامه براساس خطرات احتمالی آنها است. عوامل ریسکی فراوانی می تواند بر این قیمت گذاری تاثیر بگذارد. طبقه بندی و تعیین میزان تاثیر گذاری هر عامل ریسکی بر قیمت گذاری بیمه خودرو پیچیدگی خاصی دارد. در این پایان نامه سعی در ارائه راهی جدید برای طبقه بندی عوامل ریسکی با استفاده از اصول و روش ها...
Test Data Compression for Minimum Test Application Time
In this paper, we proposed a test data compression scheme targeted for minimizing the amount of test data. The proposed scheme can reduce the test application time and minimize the amount of compressed test data, which reduces the size of data memory in ATE and the time needed to transfer test data. A decoder design is also presented. Experimental results on ISCAS benchmark circuits show that t...
متن کاملAnalysis of Test Application Time for Test Data Compression Methods Based on Compression Codes
We present an analysis of test application time for test data compression techniques that are used for reducing test data volume and testing time in system-on-a-chip (SOC) designs. These techniques are based on data compression codes and on-chip decompression. The compression/decompression scheme decreases test data volume and the amount of data that has to be transported from the tester to the...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Journal of the Japan Society for Technology of Plasticity
سال: 2013
ISSN: 0038-1586,1882-0166
DOI: 10.9773/sosei.54.836